行业分类-物理装置-热调偏置硅铌酸锂混合集成调制器及制备方法.zip
Clipper库是目前计算机图形届广为使用的图形处理库,可以用于解决平面二维图形的多边形简化、布尔运算和偏置处理,在CAD、加工路径与3D打印方面都有着比较重要的应用。
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行业分类-电子电器-一种用于功率放大器芯片的自适应偏置电路.zip
行业分类-物理装置-一种MZ电光调制器偏置点控制方法及系统.zip
2021-07-26 15:02:08 1.2MB 行业分类-物理装置-一种MZ电光
完整英文电子版 IEC 60749-5:2017 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 5:Steady-state temperature humidity bias life test (半导体器件 – 机械和气候测试方法 – 第 5 部分:稳态温度湿度偏置寿命测试)。IEC 60749-5:2017 提供了稳态温度和湿度偏置寿命测试,目的是评估非密封封装固态器件在潮湿环境中的可靠性。 此第二版取消并取代了 2003 年出版的第一版。此版本构成技术修订。 此版本相对于上一版本包括以下重大技术更改: a) 修正方程中的错误; b) 包含指导说明; c) 阐明试验条件的适用性。
2021-07-22 18:02:02 452KB iec 60749-5 半导体 机械
用matlab simulink自带的simscap库搭建了一个shunt电流采集偏置放大的仿真电路,理论计算公式Vout = (Voffset/(1 + R2/R1 + R2/R3) + Vshunt/(1 + R1/R2 + R1/R3)) * (R5+R6)/R5 , 其中 Vshunt是Rshunt两端的电压。仿真结果符合理论计算。模型供参考,有问题或错误欢迎指出。
2021-07-08 22:20:07 95KB MATLAB模型 电路仿真 偏置放大
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CAD大作业,电流负反馈偏置共射级放大电路仿真,用Multisim 10画的。
2021-07-06 09:04:14 834KB CAD Multisim10 电流负反馈 放大电路
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完整英文版JEDEC JESD22-A108F:2017 Temperature, Bias, And Operating Life(温度,偏置和使用寿命)。本测试用于确定随时间推移偏置条件和温度对固态设备的影响。 它以加速的方式模拟设备的运行状况,主要用于设备鉴定和可靠性监控。 使用短时间的高温偏压寿命的一种形式(通常称为老化)可用于筛查与婴儿死亡率有关的故障。 老化的详细使用和应用不在本文档的范围之内。
2021-05-30 12:01:48 1.67MB JEDEC JESD22-A108F 温度 偏置
模拟电路仿真 射级偏置放大电路 Multisim12
2021-05-17 18:04:04 114KB 模电
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第1章 微带扇形偏置电路基本理论之一 1 第2章 扇形微带偏置理论之二 4 第3章 利用ADS仿真设计扇形微带偏置的整个过程 6 3.1 计算10GHZ时四分之一波长高阻线(假设设计阻抗为100欧)的长度和宽度。 7 3.2 将高阻线和扇形微带放入电路中,并仿真和优化(注意优化的变量都有哪些) 7 3.3 仿真结果分析(关键) 9 3.4 生成版图 10 3.5 导出到AUTOCAD中并填充 11 第4章 有助于加深理解扇形微带偏置原理的ADS仿真分析 11 4.1 单根四分之一波长微带线的仿真 11 4.2 四分之一波长微带线+扇形微带线的仿真 12 4.3 我的理解 12
2021-05-17 16:05:48 822KB 微带扇形偏置电路
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